型号:SN74ABT8952DW | 类别:逻辑 - 专用逻辑 | 制造商:Texas Instruments |
封装:28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) | 描述:IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
详细参数
类别 | 逻辑 - 专用逻辑 |
---|---|
描述 | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC |
系列 | 74ABT |
制造商 | Texas Instruments |
逻辑类型 | 扫描测试设备,带寄存总线收发器 |
电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
位数 | 8 |
工作温度 | -40°C ~ 85°C |
安装类型 | 表面贴装 |
封装/外壳 | 28-SOIC(0.295",7.50mm 宽) |
供应商器件封装 | 28-SOIC |
包装 | 管件 |
供应商
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